Главная | RSS News
 
 

Набор показателей качества

Практически при проектировании ЭС потребителем и производителем [157] согласуется весь набор показателей качества создаваемой аппаратуры в виде предельно допустимых ограничений на все показатели качества, строго установленной продажной цены изделий и сроков производства всей партии изделий. Следовательно, все показатели качества можно представить в виде многомерного ограниченного пространства, в пределах которого все варианты конкретных технических решений являются приемлемыми для потребителя, но будут отличаться друг от друга по конкретным значениям разных показателей качества.

Выбор и ранжирование оптимальных вариантов

В работе [232] проведена разработка и исследование иерархических моделей и программных средств для анализа и прогнозирования технических решений в условиях неопределенности. Во всех методах генерации проектных решений существует задача выбора и ранжирования оптимальных вариантов разработанных технических систем, а также прогнозирования технических решений при проектировании. Далее рассматриваются методы принятия решений, позволяющие обоснованно усекать множество сгенерированных проектных решений по множеству заданных критериев качества (методы идеальной точки, метод уступок, метод согласования решения по главному критерию, метод согласования групповых решений с использованием ранжирования по Парето, метод теории нечетких множеств и т.д.) и методы прогнозирования технических решений при проектировании (методы, основанные на использовании нейронных сетей, методы экстраполяции трендов, методы регрессионного анализа и анализа иерархических структур).

Эффективность процедур оптимального проектирования

Эффективность процедур оптимального проектирования [192], а также средств их алгоритмической и программной реализации может быть достигнута за счет построения библиотеки типовых моделей, алгоритмических и программных модулей. При этом важным вопросом эффективности применения данной библиотеки является этап математического моделирования задачи принятия решения (т.е. возможность сведения исходной постановки оптимизационной задачи к моделям, допускающим применение типовых алгоритмических конструкций или инвариантного алгоритмического ядра).

Согласование и взаимный учет решений

Важной проблемой, возникающей в процессе поэтапного проектирования микроэлектронных устройств [143], является согласование и взаимный учет решений, принимаемых на отдельных этапах, для получения оптимального конечного результата. Это обусловлено тем, что современные тенденции в области создания новых микроэлектронных устройств (уменьшение размеров компонентов, повышение степени интеграции и быстродействия, увеличение площади кристалла и т.д.) требуют в процессе разработки решения комплекса взаимосвязанных физико-технологических, функционально-схемотехнических и конструкторских задач.

Подсистемы параметрической верификации

В [95] приводятся результаты разработки подсистемы параметрической верификации, адаптированной к САПР коммутационных плат. Для реализации данной подсистемы разработаны модели интегральных схем, соединителей, а также линий связи, входящих в состав цифровых узлов, методы и алгоритмы оценки их помехозащищенности, которые позволяют синтезировать полную модель цифровых узлов и устанавливать их работоспособность с использованием программ анализа электронных схем. Подсистема параметрической верификации в САПР коммутационных плат позволяет в едином цикле автоматизированного проектирования цифровых узлов оценить времена задержек распространения сигналов в линиях связи, уровни помех отражения и перекрестных помех и за счет этого свести к минимуму корректировку конструкций плат по результатам экспериментальных исследований макетных образцов.
← Назад    1 2    Вперед →
 
 
Календарь
 
«    Октябрь 2013    »
ПнВтСрЧтПтСбВс
 
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
 
 
 

Меню
  »  Классификация портов проникновения ЭМИ
»  Задачи ЭМС ЭС при внешних воздействиях
»  Средства электромагнитного террора
»  Методы и средства анализа воздействия ЭМИ на ЭС
»  Анализ эффективности экранирования корпусов ЭС
»  Экранирование э.-м. воздействий стенами ИЗ
»  Цель и методы оптимизации
»  Оптимизация внутриаппаратурной ЭМС межсоединений
»  Многокритериальная оптимизация
 
 

Архивы
 Октябрь 2008 (17)
Сентябрь 2008 (30)
Август 2008 (19)
 
 

Популярное
   
 

Реклама
 
Статьи
Ещё
 
 

 
 
E-M-P.Ru 1, 2